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          開爾文探針

          簡要描述:環境壓力光發射光譜(APS)系統通過光發射測量材料在環境條件下的絕對功函數,不需要真空。APS的激發范圍為3.4 eV至7.0 eV,這意味著APS能夠測量金屬的絕對功函數和半導體的電離勢,同時用開爾文探針測量表面費米能級。

          • 產品型號:APS04
          • 廠商性質:經銷商
          • 更新時間:2024-05-16
          • 訪  問  量:208
          詳細介紹

          開爾文探針系統KP技術在使研究人員能夠改進其材料的特性方面處于Leading position地位。

          我們的專業知識支持新興和材料技術的發展。

          目前令人興奮的增長領域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究,然而這項技術可以應用于許多科學領域

          開爾文探針


          開爾文探針

          掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

          特性

          •在空氣中光電發射功函數

          •密度的狀態測量

          •3.4 eV至7.0 eV能量范圍

          •測量所有半導體波段

          開爾文探針接觸電位差

          應用領域:

          •有機和非有機半導體

          •金屬和金屬合金

          •薄膜和表面氧化物

          •太陽能電池和有機光伏

          •腐蝕和納米技術



           


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